MI2042BF涂層測厚儀具有精準(zhǔn)的測量技術(shù)和簡單的操作方法,是萬能的涂層測厚儀。通過解鎖代碼,可以使儀器在現(xiàn)場迅速的升級。
MI2042BF涂層測厚儀利用磁感應(yīng)法(DIN EN ISO 2178)測量鐵磁基體上的非鐵磁層的厚度并且利用渦流法(DIN EN ISO 2360)測量非鐵磁材料上覆蓋的非導(dǎo)電層厚度。
儀器將一種把測厚值顯示為模擬指針的工具和近似WINDOWS一樣的文件管理系統(tǒng)相結(jié)合,同時提供10種可供任意選擇的語言,以滿足客戶的各種需求。
MI2042BF涂層測厚儀是一種經(jīng)濟(jì)的產(chǎn)品,電池壽命長,可以連續(xù)工作100小時以上。儀器記錄工作時間和測量數(shù)量,因此一些重要的參數(shù)可以被保存。
彩色的橡膠皮套也是在供貨范圍內(nèi),可以保護(hù)儀器在工業(yè)環(huán)境中意外滑落不受損害。
特點概述:
◆大圖解屏幕 48 mm x 24 mm, 有背景燈
◆校準(zhǔn)選項
◆出廠時已校準(zhǔn),立即可用
◆在未知涂層上校準(zhǔn)*
◆零校準(zhǔn)*
◆在無涂層的基體上一點和多點校準(zhǔn)*
◆在有涂層的基體上校準(zhǔn)*
◆校準(zhǔn)數(shù)據(jù)可以別單獨存儲在獨立的校準(zhǔn)檔案中,也可以隨時調(diào)出
◆可選擇的顯示模式,以最佳形式去完成測量任務(wù)*
◆輸入和極限監(jiān)視*
◆在Windows下有簡單的存儲讀數(shù)檔案管理*
◆可用的電腦軟件STATWIN 2002 和EasyExport
◆統(tǒng)計*
◆可統(tǒng)計評估999個讀數(shù)
◆最小值、最大值、測量個數(shù)、標(biāo)準(zhǔn)偏差和極限監(jiān)視
◆局部厚度和平局膜層厚度(DIN EN ISO 2808)
◆在線統(tǒng)計,所有統(tǒng)計值概括
技術(shù)資料:
◆數(shù)據(jù)傳輸接口RS232 或 USB
◆電源:電池、充電電池、USB或外接電源
◆測量范圍: 0 - 20000 um (取決于探頭)
◆測量速度: 每秒測量2個數(shù)值
◆存儲: 最多 9999 個數(shù)值,140個文件
◆誤差:
◆涂層厚度 < 100 祄: 1 % 的數(shù)值 +/- 1 祄 (校準(zhǔn)后)
◆涂層厚度 > 100 祄: 1..3 % 的數(shù)值 +/- 1 祄
◆涂層厚度 > 1000 祄: 3..5 % 的數(shù)值 +/- 10 祄
◆涂層厚度 > 10000 祄: 5 % 的數(shù)值 +/- 100 祄
普通型 |
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鐵基膜層測厚儀標(biāo)準(zhǔn)套 |
2042F |
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非鐵基膜層測厚儀標(biāo)準(zhǔn)套 |
2042NF |
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鐵基/非鐵基膜層測厚儀標(biāo)準(zhǔn)套 |
2042 |
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數(shù)據(jù)型 |
鐵基 |
2042 Fe set EasyExport----軟件適用于Windows XP/2000包括:膜層測厚儀,統(tǒng)計模塊,試塊,校正薄膜,附加PC電纜和 EasyExport軟件,操作手冊,質(zhì)量認(rèn)證書,儀器箱 |
2042 EF |
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2042 Fe Data Set ----軟件適用于Windows 9X/XP/ME/2000NT4.0包括:膜層測厚儀,統(tǒng)計和資料模塊,試塊,校正薄膜,附加PC電纜和 STATWIN 2002軟件,操作手冊,質(zhì)量認(rèn)證書,儀器箱 |
2042DF |
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非鐵基 |
2042 NFe set EasyExport----軟件適用于Windows XP/2000包括:膜層測厚儀,統(tǒng)計模塊,試塊,校正薄膜,附加PC電纜和 EasyExport軟件,操作手冊,質(zhì)量認(rèn)證書,儀器箱 |
2042ENF |
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2042 NFe Data Set ----軟件適用于Windows 9X/XP/ME/2000NT4.0包括:膜層測厚儀,統(tǒng)計和資料模塊,試塊,校正薄膜,附加PC電纜和 STATWIN 2002軟件,操作手冊,質(zhì)量認(rèn)證書,儀器箱 |
2042DNF |
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鐵基/非鐵基 |
2042 Fe/NFe Set EasyExport----軟件適用于Windows XP/2000包括:膜層測厚儀,統(tǒng)計模塊,試塊,校正薄膜,附加PC電纜和 EasyExport軟件,操作手冊,質(zhì)量認(rèn)證書,儀器箱 |
2042 E |
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2042 Fe/NFe Data Set----軟件適用于Windows 9X/XP/ME/2000NT4.0包括:膜層測厚儀,統(tǒng)計和資料模塊,試塊,校正薄膜,附加PC電纜和 STATWIN 2002軟件,操作手冊,質(zhì)量認(rèn)證書,儀器箱 |
2042 D |
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附件:
試塊和膜片
探頭定位裝置 (適用于微型探頭)
定位輔助裝置 (適用于微型探頭)
電腦軟件 STATWIN 2002 用于數(shù)據(jù)傳輸和對整個目錄結(jié)構(gòu)的便捷管理
電腦軟件 EasyExport 用于把單獨的杜說或全部文件傳輸?shù)絎indows 程序里