產(chǎn)品簡介:
?PC-LEPTOSKOP是由KARL DEUTSCH 公司提供膜層測厚儀的探頭,它只需和普通電腦的串口線相連。所以普通膜層測厚儀的功能均可通過與WINDOWS操作系統(tǒng)匹配的通用電腦軟件STATWIN 2002來實現(xiàn)
?當(dāng)啟動statwin 2002時, 一個真實的涂層測厚儀顯示圖像就可以顯示在個人電腦的屏幕上。所有功能操作只需點擊一下鼠標(biāo)或鍵盤。STATWIN 2002用statwin 2002 ,可以分批儲存和管理幾乎任何數(shù)量的測量數(shù)據(jù)。文件和歸檔幾乎是無限的。此外,該軟件附帶了大量的統(tǒng)計功能,可以實現(xiàn)測量評估和批次
?除了有測量鐵磁性基體上非鐵磁涂層的厚度(如鋼鐵上的漆層或鉻層)和導(dǎo)電材料上的非導(dǎo)電層涂層的厚度(如非鐵金屬上的漆層),測量范圍到1200μm的 標(biāo)準(zhǔn)探頭,我們還有特殊高精度的、能測量不同的小部位或復(fù)雜的幾何形狀的探頭,雙晶探頭可測量厚度高達(dá)12.5mm,我們同時還提供完整的配件
?為固定測試有特別的設(shè)計,PC-leptoskop 2050是一個一流的膜層測厚儀