XRF 用 X光或其他激發(fā)源照射待分析樣品,樣品中的元素之內層電子被擊出后,造成核外電子的躍遷,在被激發(fā)的電子返回基態(tài)的時候,會放射出特征 X 光;不同的元素會放射出各自的特征 X 光,具有不同的能量或波長特性。探測系統(tǒng)接受這些 X 光,儀器軟件系統(tǒng)將其轉為對應的信號。這一現(xiàn)象廣泛用于元素分析和化學分析,特別是在研究金屬,玻璃,陶瓷和建筑材料,以及在地球化學研究、法醫(yī)學、電子產(chǎn)品進料品管(EU RoHS)和考古學等領域,在某種程度上與原子吸收光譜儀互補,減少工廠附設的品管實驗室之分析人力投入。
當材料暴露在短波長 X 光檢查,或伽瑪射線,其組成原子可能發(fā)生電離,如果原子是暴露于輻射與能源大于它的電離勢,足以驅逐內層軌道的電子,然而這使原子的電子結構不穩(wěn)定,在外軌道的電子會“回補”進入低軌道,以填補遺留下來的洞。在“回補”的過程會釋出多余的能源,光子能量是相等兩個軌道的的能量差異的。因此,物質放射出的輻射,這是原子的能量特性。
主要使用 X 射線束激發(fā)螢光輻射,第一次是在 1928 年由格洛克爾和施雷伯提出的。到了現(xiàn)在,該方法是用來作為非破壞性分析技術,并作為過程控制的工具,在許多采掘和加工工業(yè)。原則上,最輕的元素,可分析出鈹(z = 4),但由于儀器的局限性和輕元素為低 X 射線產(chǎn)量,它往往是難以量化,所以針對能量分散式的X射線螢光光譜儀可以分析從輕元素的鈉(z = 11)到鈾,而波長分散式則為從從輕元素的硼到鈾。
檢索范圍: |
關 鍵 字: |