將您的測量帶擴(kuò)展至檢測極限。30多年來,TSI的 SMPS? 粒徑譜儀已被廣泛作為亞微米級和低納米級粒徑范圍內(nèi)測量氣溶膠粒徑分布的標(biāo)準(zhǔn)。在和 3777型納米增強(qiáng)儀 和 3086型差分靜電遷移率分析儀 (1nm-DMA)配套使用后,該儀器能夠快速、高分辨率地測量粒徑和數(shù)量濃度,監(jiān)測工程和自然環(huán)境中1nm氣溶膠顆粒的反應(yīng)動(dòng)力學(xué)及新顆粒的形成。
大氣研究 - 該設(shè)備能夠監(jiān)測新粒子的形成及其動(dòng)力學(xué)、云凝聚,并縮小了質(zhì)譜儀與傳統(tǒng)的粒徑分布測量之間的偏差,是在高污染城市中小于3nm 粒子研究、粒子來源及健康影響研究的理想選擇。
材料科學(xué) - 該設(shè)備能夠可靠、實(shí)時(shí)反饋地監(jiān)測和表征小于3nm粒子,是基于氣溶膠工程納米粒子合成、納米粒子功能化、納米級分析化學(xué)、反應(yīng)動(dòng)力學(xué)的控制和催化劑的合成的理想選擇。
該1nm SMPS不僅僅是另一種觀察從1nm開始成核成長的檢測器,而且是一種以無與倫比的分辨率顯示存在于這些事件中的粒徑分布的成熟粒徑譜儀。
模塊化的組件讓您完全按照您的測量需求定制系統(tǒng),節(jié)省您的時(shí)間和金錢。如果您已經(jīng)擁有一臺(tái)配置了3772 CPC的3938系列SMPS系統(tǒng),您僅需增加1nm 差分靜電遷移率分析儀(DMA)和納米增強(qiáng)儀。您的分級器和高級中和器仍然保持不變,同時(shí)您將得到 最新版本AIM軟件的一次免費(fèi)升級 。
其它應(yīng)用
基礎(chǔ)氣溶膠研究研究如火焰合成、激光燒蝕、火花生成成核/冷凝等粒子源的粒子成核和成長,燃燒和發(fā)動(dòng)機(jī)排放研究(有機(jī)燃料,低于3nm的排放,天然氣發(fā)動(dòng)機(jī),塑料成型和焊接)過濾研究吸入或接觸室研究影響健康因素研究