日本日置HIOKI C測試儀 3504/3504-10
封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等
最多可分成14 類,能簡單地根據(jù)測量值進行分類 (僅限于3504)
能根據(jù)C 和D (損耗系數(shù)*2)的測量值,進行被測物合格與否的判斷
高速測量:測量頻率1kHz 時2ms, 120Hz 時10ms。
可選定測量電壓
觸發(fā)同步測量
(不能單獨使用,測量時需要選用測試冶具或探頭)
C測試儀3504/3504-10基本參數(shù)
測量參數(shù) |
Cs,Cp(電容),D(損耗系數(shù)tan) |
測量范圍 |
C:0.9400pF~20.0000mF D:0.00001~1.99000 |
基本確度 |
(代表値)C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016 ※測定確度= 基本確度× B× C× D× E, B~Eは各係數(shù) |
測量頻率 |
120Hz, 1kHz |
測量信號電平 |
恒定電壓模式: 500 mV, 1 V 測量范圍: CV1V: ~ 70 μF 量程(測量頻率1kHz) CV1V: ~ 700 μF 量程(測量頻率120Hz) CV500 mV: ~ 170 μF 量程(測量頻率1kHz) CV500 mV: ~ 1.45mF 量程(測量頻率120Hz) 信號電平精度 ±10% ± 5 mV |
輸出電阻 |
5Ω(CV1V, CV500mV 開路端子電壓模式,上述測量范圍以外) |
顯示 |
發(fā)光二級管 |
測量時間 |
典型值: 2.0 ms ( 1 kHz, FAST) ※測量時間根據(jù)測量頻率、測量速度的不同而不同 |
機能 |
BIN 分選測量功能(僅限于3504), 觸發(fā)同步測量, 設定測量條件保存功能, 比較器測量功能, EXT I/O輸入/輸出, RS-232C接口(標準), GP-IBイ接口(僅限于3504) |
電源 |
AC 100/120/220/240V ±10%(可選擇), 50/60Hz, 最大110VA |
體積及重量 |
260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg |
附件 |
電源線× 1, 電源備用保險絲× 1 |
(不能單獨使用,測量時需要選用測試冶具或探頭) 相位同期功能(特殊式樣) 同時使用多臺3504時,可實現(xiàn)測試信號的相位同期。相似的試料測試時所發(fā)生的不穩(wěn)定情況減少,測試狀況穩(wěn)定。根據(jù)需求,相位同期功能還可以對應特殊式樣。
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