LCR 測(cè)試儀 IM3533 1 mHz 到 200 kHz

HIOKI最新發(fā)售三款LCR測(cè)試儀 參數(shù)介紹

 IM3523，IM3533和IM3533-01。適用于電子元器件業(yè)界，用途覆蓋從產(chǎn)線到研發(fā)的各個(gè)領(lǐng)域。

大范圍測(cè)量頻率、電壓和電流，適用于廣泛領(lǐng)域。
三款測(cè)試儀與以往產(chǎn)品相比能更廣泛地測(cè)量頻率和信號(hào)范圍。這使得儀器在操作上帶來(lái)便捷的同時(shí)也能讓測(cè)量應(yīng)用領(lǐng)域變得更廣。

	IM3523	IM3533	IM3533-01	3522-50 (以往型號(hào))
測(cè)量頻率	40 Hz 到 200 kHz	1 mHz 到 200 kHz		1 mHz 到 100 kHz
測(cè)量電壓	5 mV 到 5 V	普通：5mV到5V 低阻抗高精度模式：5mV到2.5V		10 mV 到 5 V
測(cè)量電流	10 mA 到 50 mA	普通：10mA到50mA 低阻抗高精度模式：10mA到100mA		10 mA 到 100 mA


改進(jìn)后的基本精度±0.05%
三款測(cè)試儀的基本精度是[Z（阻抗值）×測(cè)量值]×±0.05％。這點(diǎn)優(yōu)于以往產(chǎn)品（讀數(shù)精度的±0.08%）的性能改進(jìn)保證了更精確的測(cè)量。
*Z（阻抗值）：AC電路中的電阻值。

測(cè)量效率提高，測(cè)量時(shí)間是以往時(shí)間的一半不到
以往型號(hào)需要的測(cè)量時(shí)間為5 ms，而IM3523完成測(cè)量只需要2 ms，大幅提升了測(cè)量效率。在產(chǎn)線裝備上使用更加有效率，更短的測(cè)量時(shí)間可以降低成本。

減少未知故障的接觸檢查功能
儀器的接觸檢查功能在測(cè)量采樣時(shí)可檢測(cè)到故障線路和接觸不良，降低了未知故障的風(fēng)險(xiǎn)，保證更可靠的測(cè)量。

IM3523
(1) 小巧，輕便的設(shè)計(jì)能更方便地與產(chǎn)線設(shè)備配合使用。IM3523在安裝體積上比以往產(chǎn)品小約40%，重量輕約20%，這樣有足夠的空間將儀器安裝在產(chǎn)線上或自動(dòng)測(cè)試設(shè)備內(nèi)部。

IM3533
IM3533與IM3523相比，增加了以下功能：
(1) IM3533可提供變壓器，線圈的測(cè)量，DCR進(jìn)行溫度補(bǔ)償和內(nèi)部DC偏置測(cè)量對(duì)測(cè)量鉭和其他極化電容也有幫助。IM3533能測(cè)量某個(gè)特定元件，測(cè)量范圍更廣。

(2) 觸摸屏提高操作性
The IM3533的觸摸屏提高了操作性能。

IM3533-01
IM3533-01在IM3523和IM3533的基礎(chǔ)上又增加了以下功能，特別適用于研究開發(fā)領(lǐng)域。

(1) 掃頻功能，是研發(fā)部門的理想選擇。
IM3533-01的掃頻功能可以讓用戶在特定范圍內(nèi)觀察每個(gè)頻率點(diǎn)測(cè)量值的變化，對(duì)于研發(fā)人員在評(píng)估電子元器件的特征時(shí)是個(gè)有效的工具。測(cè)量結(jié)果可通過(guò)USB存儲(chǔ)器或其它接口保存在電腦或另外的裝置上，以便對(duì)每個(gè)頻率點(diǎn)的數(shù)據(jù)進(jìn)行分析。