線性集成電路測試 |
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失調(diào)電壓: |
0~60mV |
誤差±5%讀+2字 |
失調(diào)電流: |
0~10μA |
誤差±5%讀+2字 |
輸入偏置電流: |
0~10μA |
誤差±5%讀+2字 |
差模開環(huán)增益:
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60~99.9dB
100~110dB |
誤差±5%讀+2字
誤差±7%讀+2字 |
共模抑制比:
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60~99.9dB
100~110dB |
誤差±5%讀+2字
誤差±7%讀+2字 |
最大輸出幅度: |
±4V~±24V |
誤差±7%讀+2字 |
靜態(tài)消耗電流: |
0~20mA |
誤差±5%讀+2字 |
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半導(dǎo)體管測試 |
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集電極電壓: |
0.05V/div~50V/div |
誤差 ±3% |
二極管測試電壓: |
0~3000V (配選購件) |
誤差 ±5% |
基極電壓: |
0.05V~1V/ div |
誤差 ±3% |
集電極電流: |
10μA~1A/div |
誤差 ±3% |
集電極漏電流: |
0.2μA~5μA/div |
誤差 ±3%~10% |
階梯電壓: |
0.05V~1V/級(jí) |
誤差 ±3% |
階梯電流: |
0.2uA~50mA/級(jí) |
誤差 ±5%~7% |
△Ub : |
±8V |
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功耗限制電阻: |
0~500KΩ |
誤差 ±10% |