IST6500型存儲器功能參數(shù)測試儀
IST6500型存儲器功能參數(shù)測試儀在2NS基頻下,提供四種方法自動測試存取時間 在2NS到160NS的各種器件(DRAM定時參數(shù)可編程提供1NS的基頻)從而實現(xiàn)實時測試。
1、IST6500兼?zhèn)溆懈咚匐p通道閾值比較器的可編程動態(tài)加載,允許用戶編程DUT輸出口負載,以達到一個寬的工作范圍。這一特性在SIMN器件測試鐘尤其重要,因為后者須經(jīng)常驅(qū)動,大容量小電阻的負載。
2、IST6500通過RS-232與PC機接口,器機械手接口具有“料箱排序”功能,可將器件按照選定的工作參數(shù)進行排序,這在工程元件特性或GO/NO GO測試中很具有典型意義。 IST6500易于編程,且存儲有100個不同的用戶自定義測試路徑,提供了器件的各種工作參數(shù)包括存取時間,工作電流,備用電流,數(shù)據(jù)保持電流,輸出負載,DUT電流源,定時參數(shù),測試模式及邏輯閾值的自動引導(dǎo)測試或GO/NO GO測試,同時引導(dǎo)GO/NO GO 測試的參數(shù)的預(yù)置極限也可存儲在程序里。
3、IST6500具備一系列完善的存儲測試模式,并向用戶提供短/長兩種測試模式,它能在最短的時間內(nèi)完成絕大多數(shù)RAM指標(biāo)的檢測。數(shù)據(jù)測試模式包括:全1,全0,方格噪聲模式,步1,步0,列干擾,滑動斜行,移動倒置,這些模式能檢測存儲器芯片上及其他地址上的短路,開路或單值錯誤,也能檢測芯片干擾,信號轉(zhuǎn)換放大器干擾及噪聲靈敏度錯誤。