光普 X熒光光譜儀EDX660介紹
X熒光光譜儀EDX660技術(shù)指標(biāo):
分析范圍 :30%---99.99%
測(cè)量時(shí)間 :60---300 秒
測(cè)量精度 :0.1%---99.99%
測(cè)量范圍 :Au、Ag、Cu、Zn、Ni、Pd、Rh、Cd、Ru 、Pt
重 量 :30KG
尺 寸 :350*500*400mm
X射線源 :X射線光管。
探測(cè)器 :正比計(jì)數(shù)管
X熒光光譜儀EDX660儀器配置:
單樣品腔
正比計(jì)數(shù)器
放大電路
高低壓電源
X光管