恒平儀器 754紫外可見分光光度計
型號 | 752 |
帶寬 | 4nm |
波長范圍 | 200~1000nm(步進間隔0.1nm) |
波長準(zhǔn)確度 | ±2.0nm(開機自動校準(zhǔn)) |
波長重現(xiàn)性 | 1.0nm |
測定范圍 | T:0~125.0%T A:-0.097~2.70Abs F:0~1999 C:0~1999 |
透射比準(zhǔn)確度 | ± 0.5%T (0~100%T) |
透射比重現(xiàn)性 | 0.2%T |
亮電流 | ≤0.5%T |
暗電流 | ≤0.2%T |
雜散光 | ≤0.5%T(在220,340nm處) |
恒平儀器 754紫外可見分光光度計技術(shù)參數(shù)
型號 | 754 |
帶寬 | 4nm |
波長范圍 | 190~1100nm(步進間隔0.1nm) |
波長準(zhǔn)確度 | ±1.0nm(開機自動校準(zhǔn)) |
波長重現(xiàn)性 | 0.5nm |
測定范圍 | T:-0.1~200.0%T A:-0.5~3.000Abs F:0~9999 C:0~9999 |
透射比準(zhǔn)確度 | ± 0.5%T |
透射比重現(xiàn)性 | 0.2%T |
亮電流 | ≤0.5%T |
暗電流 | ≤0.2%T |
雜散光 | ≤0.3%T(在220,340nm處) |
穩(wěn)定性 | ±0.002A/h |