注意的是直流高壓輸出是負(fù)電壓,而地為正極。測(cè)試電容時(shí),在電容器兩端加上電壓時(shí)有一充電過(guò)程,此時(shí)在測(cè)試電路中有一充電電流,當(dāng)該電流大于所設(shè)定的漏電電流值時(shí),耐壓測(cè)試儀就會(huì)報(bào)警,使測(cè)試中斷,無(wú)法進(jìn)行。因此,
安規(guī)測(cè)試儀在測(cè)試時(shí),應(yīng)緩慢增加電壓,充電電流小于所設(shè)定的漏電電流值,直到規(guī)定測(cè)試電壓,進(jìn)行測(cè)試。而不能采用固定電壓,復(fù)位—啟動(dòng)方式進(jìn)行測(cè)試.在交流回路中相當(dāng)于直流回路中的電阻,因此,安規(guī)測(cè)試儀在交流回路中就產(chǎn)生一個(gè)電流,當(dāng)該電流大于所設(shè)定的漏電流值時(shí),耐壓測(cè)試儀就會(huì)報(bào)警,使得測(cè)試中斷,無(wú)法進(jìn)行。因此,在測(cè)試前,應(yīng)先計(jì)算好電容器的容抗(Xc),再算出在測(cè)試電壓下的回路電流值,然后調(diào)節(jié)耐壓測(cè)試儀漏電流預(yù)置值,使其略大于回路電流值,再進(jìn)行測(cè)試。J)測(cè)試電纜等分布電容大的元件(設(shè)備)要等同于電容器測(cè)試。
安規(guī)標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介
CB CE GS UL TUV
UL檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):
UL60950:ITE類(lèi)產(chǎn)品
UL60065(UL6500,UL1492):AV類(lèi)產(chǎn)品
UL1310:線性電源類(lèi)產(chǎn)品
UL982:馬達(dá)類(lèi)家用食物處理器
UL2089:車(chē)載充電器
UL1004:電動(dòng)馬達(dá)
CSA檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):
C22.2 No.12/No.74/No.223/No.950/No.1335.1/No.1335.2.14
C22.2 No.1335.2.9/No.64
TUV&GS,CB, PSB,CE-LVD檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):
IEC/EN 60950-1
IEC/EN 60065
IEC/EN 60335-1, -2-X
IEC/EN 61558-1, -2-X
IEC/EN 60598-1, -2-X
IEC/EN 60968
FDA X-Ray,LASER
中國(guó)CCC標(biāo)準(zhǔn)
玩具安全(EN71、ASTM F963)
4相關(guān)資料
1、 何謂耐壓測(cè)試?
耐壓測(cè)試是最常見(jiàn)的安規(guī)測(cè)試之一,常見(jiàn)的dielectric withstand、high potential、hipot test都是指耐壓測(cè)試。耐壓測(cè)試的主要目的測(cè)試DUT(Device under Test)的絕緣能力。故當(dāng)設(shè)備在運(yùn)作時(shí),對(duì)測(cè)試點(diǎn)施以一高壓,測(cè)試是否有絕緣破壞(Breakdown)或電氣閃絡(luò)(Flashover/ARC)發(fā)生。
2 、在安規(guī)中絕緣有幾種類(lèi)型?
絕緣類(lèi)型分為四種:基本絕緣(Basic)、輔助絕緣(Supplementary)、雙重絕緣(Double)以及加強(qiáng)絕緣(Reinforced)。由於產(chǎn)品內(nèi)部可能因灰塵過(guò)多、潮濕或是其他原因?qū)е卵孛娣烹姡虼艘岔氁阅蛪簻y(cè)試判斷產(chǎn)品內(nèi)部電路設(shè)計(jì)是否有沿面距離或絕緣不足等問(wèn)題。
3 、在AC耐壓測(cè)試時(shí),為何需要real current 的判斷?
AC輸出總電流(total current)可能因部份內(nèi)部容抗而造成與真實(shí)測(cè)試電流(real current)之間的差異。電流在輸出時(shí),若受到較大容抗時(shí),反應(yīng)電流(reactive)會(huì)較大,而使得真實(shí)測(cè)試電流相對(duì)變小。若無(wú)法準(zhǔn)確測(cè)量輸出電流與加以補(bǔ)償,會(huì)造成測(cè)試上的盲點(diǎn)。
4 、在DC耐壓測(cè)試時(shí),為何需要緩升時(shí)間?
DC耐壓測(cè)試通常會(huì)需要加上緩升時(shí)間以及放電時(shí)間,因?yàn)榇蠖嗟腄UT具有電容性而會(huì)導(dǎo)致充電電流產(chǎn)生。為了使充電變位電流(charge current)穩(wěn)定,需要緩升時(shí)間來(lái)緩沖,才不會(huì)因充電電流而導(dǎo)致漏電流過(guò)高,進(jìn)而判斷為不良品(FAIL)。
5 、在做耐壓測(cè)試時(shí),為何需要緩降時(shí)間?
耐壓測(cè)試會(huì)使DUT充電,因此在耐壓測(cè)試結(jié)束時(shí)須一段時(shí)間來(lái)進(jìn)行放電,優(yōu)良的耐壓測(cè)試設(shè)備會(huì)將放電時(shí)間減至最少,并且在未達(dá)放電標(biāo)準(zhǔn)前會(huì)明顯標(biāo)示危險(xiǎn)警告,以防止測(cè)試人員不當(dāng)接觸而受到電氣傷害。
6 、何謂flashover 電氣閃絡(luò)(ARC)?
安規(guī)標(biāo)準(zhǔn)中明顯指出不得有絕緣破壞(Breakdown)發(fā)生,而部份安規(guī)標(biāo)準(zhǔn)更要求不得有電氣閃絡(luò)(Flashover/ARC發(fā)生,但并無(wú)絕對(duì)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。ARC是屬於電氣放電的一種,當(dāng)ARC發(fā)生時(shí)已表示絕緣能力已不足,若多次的ARC發(fā)生,則會(huì)導(dǎo)致絕緣破壞。
7 、為何需要做電壓補(bǔ)償?
在耐壓測(cè)試中,測(cè)試電壓的標(biāo)準(zhǔn)是判斷良品的主要因素之一。許多耐壓測(cè)試設(shè)備以變壓器將低電壓轉(zhuǎn)換為高電壓後輸出,但儀器的內(nèi)部阻抗會(huì)造成分壓,尤其在一些品質(zhì)不良的耐壓測(cè)試設(shè)備中,實(shí)際輸出電壓無(wú)法達(dá)到安規(guī)標(biāo)準(zhǔn)。為避免失誤判定為良品而造成不必要的困擾,優(yōu)良的耐壓測(cè)試設(shè)備會(huì)以自動(dòng)增益補(bǔ)償(Auto Gain Compensation)修正與補(bǔ)償電壓至所須電壓值,并將電壓表設(shè)計(jì)於輸出端,以便正確量測(cè)輸出電壓是否不足。
8 、何謂接地阻抗測(cè)試?
接地保護(hù)有二種測(cè)試方法:接地連續(xù)測(cè)試(Ground Continuity test, GC)及接地連接測(cè)試(Ground Bond test, GB)。接地保護(hù)測(cè)試的目的在於不讓使用者在不當(dāng)電流產(chǎn)生時(shí),電流會(huì)流向大地,接觸機(jī)體則不會(huì)導(dǎo)致電氣危害。
9 、何謂絕緣電阻測(cè)試?
絕緣阻抗測(cè)試和直流耐壓測(cè)試是非常相似的,於相關(guān)連的兩點(diǎn)施以直流電壓(50~1000V),可判定良品及不良品。絕緣阻抗測(cè)試為非破壞試驗(yàn),且能偵測(cè)絕緣是否良好,在某些規(guī)范中,是先做絕緣阻抗測(cè)試再進(jìn)行耐壓測(cè)試,而絕緣阻抗測(cè)試無(wú)法通過(guò)時(shí),往往耐壓測(cè)試也無(wú)法通過(guò)。
10、 何謂漏電流?
當(dāng)電流經(jīng)過(guò)絕緣阻抗後溢出,稱(chēng)之為漏電流(Leakage current),當(dāng)漏電流經(jīng)由人體接觸,使電流經(jīng)過(guò)人體後流向Earth,即造成電氣傷害。漏電流測(cè)試與耐壓測(cè)試、接地保護(hù)測(cè)試的不同處,在於設(shè)備是在運(yùn)作狀態(tài)下做測(cè)試。漏電流測(cè)試中會(huì)加上一個(gè)人體模擬阻抗電路,可模擬在真實(shí)情況下漏電流經(jīng)過(guò)人體的大小。