技術參數 1.Fischerscope X-RAY XDL是采用根據技術標準DIN50987,ISO3497和ASTM B568的X-射線熒光測試方法; 2.原始射線從上至下; 3.微聚焦X-射線管高壓設定可調節(jié)至最佳的應用:50kV,40kV或30kV; 4.標準視準器組:圓形0.1/0.2/0.3和長方形0.05X0.3mm; 5.測量箱外部尺寸:(高×寬×深)650 mm×570 mm×740 mm(26〞×22〞×29〞),重量大約為105kg(120lbs); 6.帶槽箱體的內部尺寸:(高×寬×深)300 mm×460 mm×500 mm(12〞×18〞×20〞)帶向上回轉箱門; 7.嵌入式固定的測試件支承板,需要時可移去以適用于大件的超出尺寸的測試工件; 8.電機驅動的144mm(5.7〞)X-射線頭部(X-射線管,比例接收器及視準器)的Z軸運行; 9.試件查看用彩色攝像機 10.測量開始/結束按鈕,X-射線頭部上/下按鈕及LED狀態(tài)指示燈與測試箱集成在一體。 |
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主要特點
FISCHERSCOPE® XDLM®-C4 是一款基于Windows™ 的鍍層厚度測量和材料分析的X-射線系統(tǒng)。測量方向從上往下。 微聚焦X-射線管以及電機帶動的有4個不同尺寸視準器組成的視準器組使得XDLM®-C4成為測量大批量生產部件的理想測量儀器,例如螺絲,螺母和螺栓??蛇x擇的鈷接收器有效地解決銅上鍍鎳的測量應用問題 XDLM®的特色是獨特的距離修正測量方法。DCM方法(距離控制測量)自動地修正在不同的測量距離上光譜強度的差別,簡便了測量復雜幾何外形的測試工件和在不同測量距離上的測量。 與WinFTM® V.6軟件及校樣標準塊Gold Assay結合,XDLM®作為FISCHERSCOPE® GOLDLINE ASSAY的一部分, 完美地適用于快速,非破壞性和精確的測量珠寶及貴金屬中金的成分。 | ||
適用于Windows®2000或選擇適用于Windows® XP的真Win32位程序帶在線幫助功能 頻譜庫中允許創(chuàng)建從元素鈦至鈾的任何一種新的應用 能通過“應用工具箱”(由一個帶所有應用參數的軟盤和校準標準塊組成)使應用的校準簡單化 畫中畫測試件查看和數據顯示,帶快速移動焦距功能放大試件圖像;計算機生成的刻度化的瞄準十字星,并有X-射線光束大小指示器(光束的大小取決于測量的距離) 圖形化的用戶界面,測試件的圖像顯示可插入于測試報告中 對試件與視準器之間的距離進行視覺控制的校正(DCM方法)范圍可達80mm(3.2〞) 測量模式用于: 單、雙及三層鍍層系統(tǒng) 雙元及三元合金鍍層的分析和厚度測量 雙層鍍層,其中合金鍍層在外層或在中間層的厚度測量和分析(兩層的厚度 和合金成分都能被測量) 能分析多達四種金屬成分的合金,包括金的開數分析的特殊功能。對電鍍溶液的分析能力可達包含一或二種陽離子的電鍍液。 可通過RS-232接口或使用網絡環(huán)境控制命令設定數據的輸出和輸入以實現系統(tǒng)的遠程控制。 通過使用可選擇的帶合成條形碼讀入器的鍵盤實現產品選擇。 可編程的應用項圖標,用于快速產品選擇。 完整的統(tǒng)計功能,SPC圖,標準的概率圖和矩形圖評估。 報告生成,數據輸出 語言可選擇:英語,德語,法語,意大利語,西班牙語,及中文 菜單中的某些選擇項可授權使用 |