· 高精度 · 2倍于競(jìng)爭(zhēng)對(duì)手的響應(yīng)頻率
· 模擬量輸出及USB接口 · 輕便手持式
· 自動(dòng)零點(diǎn)/自動(dòng)量程 · 極大值/極小值保持
· 高性能價(jià)格比 · 真有效值測(cè)量
應(yīng)用:
· 直流/交流電機(jī)測(cè)試 · 磁體測(cè)量及分類
· 磁場(chǎng)分布測(cè)試 · 揚(yáng)聲器品質(zhì)控制
· 工具剩磁測(cè)量 · 實(shí)驗(yàn)室應(yīng)用
· 無(wú)損探傷應(yīng)用 · 發(fā)電廠/變電站干擾磁場(chǎng)測(cè)量
美國(guó)貝爾bell 高斯計(jì)5170技術(shù)參數(shù):
型號(hào) 5170 5180
基本精度 2% 1%
頻率范圍 DC - 20 kHz DC - 40 kHz
屏幕顯示采樣率
模擬輸出采樣率 4次/秒
沒(méi)有 4次/秒
200K次/秒
量程 3檔 3檔
低量程 200G 300G
中量程 2KG 3KG
高量程 20KG 30KG
分辨率 0.1G 0.1G
單位 Gauss, Tesla, Gauss, Tesla, A/M
顯示位數(shù) 3 1/2 LCD 3 3/4 LCD
模擬輸出 - +3V F.S.
模擬輸出 - USB
一般信息:
工作溫度 0℃ 至 +50℃
儲(chǔ)存溫度 -25℃ 至 +70℃
電源 4節(jié)AA電池或外接電源
尺寸 (長(zhǎng) x 寬 x深) 6.9" (175 mm) x 3.9" (100 mm) x 1.44" (37mm)
探頭和附件:
5170探頭型號(hào) 5180探頭型號(hào)
HTH17-0604 4" Transverse Probe
STH17-0404 4" Transverse Probe (incl. w/5170)
STH17-0402 2" Transverse Probe
SAH17-1904 4" Axial Probe
SAH17-1902 2" Axial Probe
STB1X-0201 Ultra Thin Probe (0.020" thick) HTD18-0604 4" Transverse Probe
STD18-0404 4" Transverse Probe (incl. w/5180)
STD18-0402 2" Transverse Probe
SAD18-1904 4" Axial Probe
SAD18-1902 2" Axial Probe
STB1X-0201 Ultra Thin Probe (0.020" thick)