本月特價(jià) 熱賣產(chǎn)品 貨到付款 現(xiàn)場(chǎng)演示 延長(zhǎng)保修 終身維修
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
?EPOCH LT探傷儀是目前最輕最薄的一臺(tái)新式探傷儀
?厚度僅38mm.重量也只有1kg
?最小顯示更新率可達(dá)到60HZ
?有探頭自動(dòng)校準(zhǔn)功能，數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)記錄儀和其他一些測(cè)量功能
?在現(xiàn)場(chǎng)條件比較苛刻或者是要求比較高的生產(chǎn)環(huán)境中，EPOCH LT是你的最佳選擇，它能為你提供所需的快速基本的超聲缺陷檢測(cè)
產(chǎn)品特點(diǎn)：
?按人機(jī)工程學(xué)設(shè)計(jì)的輕巧的結(jié)構(gòu)(僅1kg)
?快速的屏幕顯示更新率(最小可達(dá)60Hz)
?高能量的鎳氫電池
?液晶發(fā)光顯示屏幕，可選擇全屏或分屏顯示
?自動(dòng)探頭校準(zhǔn)功能
?屏幕凍結(jié)功能鎖定波形、顯示聲程數(shù)據(jù)
?聲程單位可選擇英寸、毫米和微秒
?峰值記憶功能
?射頻顯示模式
?報(bào)警模式可選擇正/負(fù)門檻或最小報(bào)警模式
?數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)記錄儀
?EMAT探頭性能(E110-SB)
?標(biāo)準(zhǔn)DAC和TVG
標(biāo)準(zhǔn)配置：
?EP-MCA：袖珍充電器適配器
?EPLT/BAT：鎳氫充電電池
?EPLT/CAL-NIST：NIST校準(zhǔn)證書
?910-258：說(shuō)明手冊(cè)
?36DLP-CC：儲(chǔ)運(yùn)箱
?DAC/TVG軟件
液晶顯示： 320像素（寬）x 240像素（高） 顯示刷新率： 最低60 Hz 靈敏度： 最高達(dá)100 dB，參考水平靈敏度的可選分辨率為6 dB或0.1 dB 自動(dòng)探頭校準(zhǔn)： 探頭零位偏移和/或材料聲速的自動(dòng)校準(zhǔn) 抑制： 整個(gè)標(biāo)度的0%～80%，增量為1% 單位： 毫米、英寸、微秒 材料聲速： 635 m/s～15240 m/s 范圍： 4 mm～5000 mm
1 mm～10000 mm，可選折射角度： 固定設(shè)置為0°、30°、45°、60°、70°，或從10°～85°可變，調(diào)節(jié)增量為0.1° 峰值記憶： 同時(shí)顯示以60 Hz刷新率更新的動(dòng)態(tài)A掃描以及A掃描的峰值包絡(luò) 脈沖發(fā)生器類型： 負(fù)尖波激勵(lì)脈沖，以及可選的可調(diào)方波 脈沖能量： 低（100 V）、中（200 V）、高（300 V）、最大（400 V） 阻尼： 50 Ω、63 Ω、150 Ω、400 Ω 檢波： 全波、正半波、負(fù)半波、未經(jīng)檢波的射頻波 模擬帶寬： 0.3 MHz～20 MHz，-3 dB處 檢測(cè)模式： 脈沖回波、雙晶或穿透 報(bào)警： 可選正閾值、負(fù)閾值或最小深度模式 工作溫度： -10 °C～50 °C 存儲(chǔ)溫度： -40 °C～70 °C 電源要求： AC主電源：100 VAC～120 VAC、
200 VAC～240 VAC，50 Hz～60 Hz電池： 內(nèi)置可充電鎳氫電池組，額定6 V，3200 mAh 電池工作時(shí)間： 額定5～6小時(shí)。充電時(shí)間一般為2小時(shí) 探頭線纜接口： LEMO 00接口。備有用于LEMO 1和BNC接口的適配器 鍵盤： 英語(yǔ)或國(guó)際符號(hào) 語(yǔ)言： 可利用鍵盤選擇語(yǔ)言：英語(yǔ)、法語(yǔ)、德語(yǔ)、西班牙語(yǔ)、意大利語(yǔ)、俄語(yǔ)、日語(yǔ)及用戶定義的語(yǔ)言 USB高速通信端口 外型尺寸： 238 mm x 138 mm x 38 mm 重量： 1.0公斤，帶電池 PC機(jī)要求： 與Microsoft Windows XP和Microsoft Windows 2000兼容 保修： 一年保修，不包括電池。可選第二年延長(zhǎng)保修 數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)記錄器 可存儲(chǔ)多達(dá)100個(gè)校準(zhǔn)設(shè)置以及2000個(gè)厚度測(cè)量值。
可選增容的內(nèi)存可存儲(chǔ)多達(dá)500個(gè)校準(zhǔn)設(shè)置以及10000個(gè)厚度測(cè)量值
分享儀器驗(yàn)室儀器/jts-7超聲波探傷儀.jpg)
檢測(cè)設(shè)備/uslt2000sp3便攜式探傷儀.jpg)
隱藏對(duì)比框